Hampshire D.P., Blair A.I.
Ключевые слова: grain structure, modeling, numerical analysis, critical caracteristics, critical current density, magnetic field dependence, films, grain boundaries, grain size
IEEE Transactions Applied Superconductivity, 2019, v.29, N 5, p.8001705
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.